| 品牌：Agilent/安捷伦 | 是否进口：否 | 产地：美国 |
| 加工定制：否 | 型号：HP4155B/HP415*** | 测量范围：2 |
| 测量精度：1 | 产品用途：半导体参数测试仪 | 产品特性：二手-*** |
特性
· 4156C提供4个内置的高分辨率的源/监控单元（HPSMUs），两个电压源单元（VSUs）和两个电压监控单元（VMUs）
· 1 fA 和0.2?UV的测试精度可满足开发新工技术和评价材料
· 全Kelvin，每个HRSMU有激励源、感应和接地端
· 完成准静态的电容对电压测试
· 自动提取处理参数而不需要人工操作屏幕光标
· 用极低泄漏的SMUs测量***泄露特性
· 用集成的脉冲发生器和选择开关自动完成器件表征
· 用内置的应力模式完成晶片的可靠性测试
· 用图形用户界面完成“点击”测试
· 基于Windows环境的图形数据分析能力
· 旋钮扫描功能可以快速检验探针是否接触正常
· 待机模式不需要外部电源
· 触发模式可以同步AC/DC测试。
· IBASIC 用户功能可以绘图和分析数据。
Agilent4156C***半导体参数测试仪
Agilent4156C***半导体参数测试仪是Agilent下一代的***半导体参数测试仪，4156C为***器件表征提供了高精
参数分析的实验室平台。
较高的低电流、低电压分辨率和内置准静态CV测量能力，4156C还为以后和其他的测量仪器的扩展使用提供了坚实基础。
41501B扩展测量能力到1A/200V，并给Agilent4156C增加一个低的噪声接地单元和双脉冲发生器。
